Maschinenpark am wbk

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Institut für Produktionstechnik

Maschinendatenblatt

Rasterelektronenmikroskop REM Jeol JSM-6010 Plus







Beschreibung:

Rasterelektronenmikroskop REM Jeol JSM-6010 Plus

Ausstattung:

Technische Daten:

Foundation | Welcome
Angabe Werte

Ansprechpartner:

Foundation | Welcome
Bild Adressdaten
Buchholz, Johannes
Gebäude: FaGa - Geb. 50.36
Raum: F 008
Telefon:

johannes.buchholz@kit.edu

Hersteller:

Foundation | Welcome

ohne Angabe



Deutschland

Telefon:
E-Mail:
Kundennummer: