Nanofokus µSurf Customer
Analysegerät zur Messung von Oberflächen mithilfe von Konfokalmikroskopie mit einer maximalen Genauigkeit in Z-Richtung von 1nm. Elektrischer X-Y-Probentisch erlaubt Stitching größerer Bereiche und Automatisierung von Messungen mehrerer Proben.
Angabe | Werte |
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Bild | Adressdaten |
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Böhland, FelicitasGebäude: Campus EhrenhofRaum: C 101 Telefon: felicitas.boehland@kit.edu |
NanoFocus AGMax-Planck-Ring 48 |